
LOT-Oriel vertritt europaweit Woollam Co., den Weltmarktführer auf dem Gebiet Spektroskopische Ellipsometrie.
Wir bieten Ellipsometer an für Forschung und Produktionsüberwachung, zur Bestimmung optischer Konstanten und Schichtdicken, auch von Vielschichtsystemen, in-situ und ex-situ.
Spektroskopische Ellipsometer vom VUV bis FIR, mit der wohl umfangreichsten und komfortabelsten Software.
Bei LOT-Oriel finden Sie eine Vielzahl von spektroskopischen Ellipsometer, für jeden Anwendungsfall das optimale System.
Neue CompleteEASE Version, Neues Handbuch
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VASE® |
M-2000® |
VUV-VASE™ |
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IR-VASE® |
Alpha-SE™ |
Ellipsometer für Photovoltaik |
Spectroskopische Ellipsometer Übersichtsflyer
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Arbeitskreis Ellipsometrie Paul-Drude e.V.
8th Workshop Ellipsometry (initiated by the Arbeitskreis Ellipsometry (AKE) - Paul Drude e. V.)
Detaillierte Informationen:
Termine:
L.O.T.-Oriel AG | info@lot-qd.ch | Moulin-du-Choc | CH-1122 Romanel-sur-Morges | Tel.: +41 21 869 90 33 | Fax: +41 21 869 93 08