Tomographie 3D à rayons X : systèmes MicroXCT™ et UltraXRM-200™ de Xradia

Les microscopes de tomographie 3D à rayons X de Xradia permettent de sonder la matière à l’intérieur de l’échantillon de façon non invasive et non destructive. Il est donc possible de déterminer les structures et les défauts de l’échantillon en conservant son intégrité.

Xradia offre une solution unique qui combine la technologie CT-scan (tomographie axiale calculée par ordinateur) à une optique des rayons X brevetée. Xradia propose une gamme d’instruments d’imagerie 3D non destructive pour des résolutions allant du millimètre à quelques nanomètres.

Tomographes MicroXCT:

Les systèmes MicroXCT sont polyvalents, faciles d’utilisation et peuvent être utilisés pour de nombreuses applications. Cette gamme de MicroXCT utilise un détecteur des rayons X breveté et une tourelle d’objectifs optiques permettant de zoomer facilement. Elle permet d’aller d’une résolution de 30 µm à une résolution inférieure à 1 µm sur un champ de vision de 2 mm.

Le MicroXCT-200 est un instrument polyvalent destiné principalement à l’imagerie d’échantillons de taille supérieure à 100 mm de diamètre et d’un poids allant jusqu’à 1kg, avec cependant une résolution submicronique.

Le MicroXCT-400 est un instrument présentant une grande enceinte parfaitement adaptée aux analyses in situ (température, pression …). Tout comme le MicroXCT-200, il permet une résolution inférieure au micromètre, mais permet l’analyse d’échantillons de taille supérieure à 200 mm de diamètre et d’un poids allant jusqu’à 15kg.

Le VersaXRM-500 est quant à lui le dernier-né de la famille et son design spécifique de la source a été optimisé pour en faire un équipement plus rapide, avec une résolution pouvant être inférieure à 1 µm.

Tomographe ultra haute résolution UltraXRM-200:

Le UltraXRM-200 est le seul système à ultra haute résolution commercialisé utilisant une optique des rayons X dont le design reprend les technologies utilisées sur les synchrotrons. Il permet d’obtenir des résolutions en 3D inférieures à 50 nm. L’imagerie par contraste de phase de Zernike intégrée au système permet d’augmenter le contraste des interfaces et des contours de l’échantillon lorsque le contraste d’absorption est faible. Ainsi le UltraXRM-200 permet d’obtenir des informations en 3D qui ne seraient visibles qu’en effectuant des coupes ou en utilisant des méthodes destructives.

Domaines d’application :