Xradia offre soluzioni avanzate per l’imaging 3D attraverso un’ampia gamma di microscopi a raggi X (XRM, X-Ray Microscopes) basati sulla tecnologia della tomografia 3D computerizzata combinata con l’impiego di ottiche a raggi X brevettate.
Combinando il sistema della famiglia VersaXRM con la piattaforma UltraXRM, Xradia è oggi sul mercato l’unico produttore in grado di offrire una soluzione “multi-length scale” per applicazioni di analisi 3D non distruttiva da scala millimetrica a scala nanometrica.
Il Versa XRM impiega rilevatori a raggi X brevettati. Il sistema si basa su una torretta, simile a quella di un microscopio ottico, con obiettivi a diversa magnificazione, per facili operazioni di zooming, che integrano il detector.
È possibile passare da una modalità di scansione con risoluzione di 30µm ad una con risoluzione sub-micrometrica e campo di vista di 2mm.
L’UltraXRM è l’unico microscopio a raggi X con scala nanometrica disponibile in commercio che utilizza ottiche X-ray per luce di Sincrotrone e fornisce una risoluzione volumetrica reale <100nm.
La gamma dei sistemi MicroXCT Xradia è composta dai seguenti sistemi:
L’ UltraXRM-L200 sviluppato da Xradia è l’unico sistema disponibile in commercio per applicazioni estreme in cui è richiesto l’imaging su scala nanometrica. Grazie al design basato su zone plate e ottiche a raggi X, l’UltraXRM-L200 offre una risoluzione fino a 50nm e profondità di fuoco di 65µm e permette dunque di ottenere ineguagliabili dettagli per una completa ricostruzione del modello 3D.
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