Magnetometro ad effetto Kerr NanoMOKE2

Il magnetometro magneto-ottico di Durham Magneto Optics Ltd. NanoMOKE2 è uno strumento a sensibilità ultra-alta per le misurazioni dell’effetto Kerr longitudinale, trasversale e polare.

Il NanoMOKE2 è perfetto per la caratterizzazione magnetica delle nanostrutture e dei film sottili magnetici di grande interesse nei seguenti ambiti:

nanotecnologie
studi sulle Magnetic Random Access Memory (MRAM)
testine di registrazione
supporti magnetici configurati
spintronica
GMR/TMR
magnetismo di film sottili
sensori di campo magnetico

Le principali caratteristiche del NanoMOKE2 sono:

sensibilità e stabilità ultra-alte combinate con un livello di rumore bassissimo: si possono rilevare variazioni del segnale fino allo 0.001% in pochi minuti. Per confronto, basti pensare che un film di Permalloy da 5nm produce una variazione di segnale di Kerr longitudinale di circa il 2%, ovvero 2000 volte più grande della sensibilità offerta.

Spot laser altamente focalizzato. In funzione dell’obiettivo selezionato lo spot del laser può essere ridotto a una dimensione compresa tra 2.8µm e 5.5µm. Ciò consente di selezionare solo poche nanostrutture in un array denso oppure di ottenere alte sensibilità su singole nanostrutture isolate.

Localizzazione del campione avanzata. Un microscopio ottico è integrato sul cammino ottico del laser così da poter osservare lo spot del laser e la superficie del campione contemporaneamente. Il campione è posizionato su una piattaforma robotizzata che consente allo spot focalizzato del laser di essere centrato con una precisione < 1µm. Inoltre, la possibilità (unica!) di effettuare la scansione del campione permette di misurare ed identificare strutture magnetiche troppe piccole per essere visualizzate con il microscopio in dotazione.

Design aperto e flessibile. Tutte le componenti ottiche sono montata su un tavolo ottico standard, permettendo modifiche atte ad adattare il sistema ai requisiti richiesti dalle singole applicazioni.

LX Pro software. E’ uno strumento di facile utilizzo e molto flessibile che controlla il posizionamento del campione per individuare aree specifiche, di generare e controllare campi con pattern complessi, registrare i cicli di isteresi ed effettuare post-analisi per la rimozione di artefatti, la filtrazione del rumore e calcolare la distribuzione dei campi di switch. Il software LX Pro mette a disposizione dell’utente oltre 150 tra proprietà e metodi di analisi utili all’interfacciamento del sistema con altri software o routine che si desidera scrivere per la propria applicazione.

Opzioni. E’ possibile inoltre dotare il sistema di un movimentatore X-Y con una corsa massima di 150mm e di un controllo della temperatura variabile tra 4.2K e 500K.

Caption.

Ciclo di isteresi misurato di un singolo nanotubo di Permalloy spesso 5nm, largo 200nm e lungo 18µm, prodotto per litografia a fascio elettronico. Tempo di acquisizione: 11 secondi. Frequenza di sweep del ciclo: 27Hz. Ellitticità di Kerr: longitudinale. Dimesioni dello spot del fascio: 3.3µm