Telecamere NIR/SWIR Xenics

Le telecamere Xenics NIR e SWIR sfruttano le proprietà ottiche del Silicio per la caratterizzazione spaziale di wafer e celle solari prodotte con tale materiale. Il Silicio risulta infatti trasparente a certe lunghezze d’onda che cadono proprio nello spettro di sensibilità delle telecamere NIR e SWIR Xenics: sarà dunque possibile individuare i difetti in un wafer, per esempio, senza doverlo distruggere, consentendo il massimo sfruttamento del materiale ed evitando il danneggiamento degli strumenti per la lavorazione dei wafer (si pensi ad esempio alle inclusioni di SiC che danneggiano il materiale al momento del taglio e la stessa sega a filo usata per il taglio).

Negli stessi intervalli di sensibilità cade poi l’emissione di radiazione da elettroluminescenza, che con le telecamere Xenics diventa di facile rilevazione su tempi molto brevi, dell’ordine dei microsecondi, rendendo i controlli di qualità finalmente economici e soprattutto veloci.

Sinistra: elettroluminescenza da una cella solare osservata attraverso un filtro passa alto con taglio a 1450nm. Destra: elettroluminescenza da una cella solare, spettro completo.